加工定制 : | 否 | 品牌 : | XH |
型号 : | XH-3207 | 适用范围 : | 广泛 |
可售地 : | 全国 | 环境温度 : | -10~+55℃ |
计数容量 : | 0~9999 cps |
一、仪器简介
XH-3207 125I, 131I碘表面污染测量仪,采用闪烁探测法,一种便携式低能γ放射性沾W测量仪。用以检测放射性工作场所和实验室的工作台面、地板、墙面、手、衣服、鞋等表面受125I或131I放射性污染的程度。
本仪表为液晶显示小型可携仪表,仪器显示测量结果时发出音响讯号。液晶显示高压值和电池欠压提示。电路采用微分测量法,可将入射的131I放射性对125I污染测量的影响减小到Z小程度。
二、主要指标
计数容量:0~9999 cps
定 时:1~60",默认2"
测量范围:125I :0~9999 cps
131I :0~9999 cps
γ能量范围:125I:25~65Kev;131I: 364Kev
表面活度响应
用探测效率表示:125I≥50% 本底≤5Hz
131I≥10% 本底≤30Hz
相对固有误差:≤±25%
变异系数:仪表对于随机的统计涨落而产生的示值变异系数<±10%。
电池寿命:在正常使用条件下5#电池三节一次能连续使用12h(背光关闭);采用3.7V充电电池可连续20h(背光关闭)
高温误差:仪器在45±2℃条件下,通电4小时,其测量误差≤±20%.
低温误差:仪器在-8±2℃条件下,通电4小时,其测量误差≤±20%.
潮湿误差:仪器在相对湿度为95±3%(40±2℃)条件下,不通电放置48小时,其测量误差≤±10%(因温度引起的误差除外)
工作环境:
环境温度:-10~+55℃
相对湿度:≤95±3%(40±2℃)