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  • 济南米莱仪器有限公司

     

    济南米莱仪器有限公司

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首页 > 供应产品 > 米莱仪器labmeter薄膜测厚仪CHY-CU 薄膜测厚仪供应 薄膜厚度测试仪
米莱仪器labmeter薄膜测厚仪CHY-CU 薄膜测厚仪供应 薄膜厚度测试仪
单价 278.00 / 台对比
销量 暂无
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发货 北京
库存 45台起订1台
品牌 米莱仪器labmeter
过期 长期有效
更新 2023-09-11 11:51
 
详细信息
品牌 : 米莱仪器labmeter 型号 : CHY-CU
类型 : 薄膜测厚仪 测量范围 : 0~2 mm(标配)
测量精度 : 0.1 μm 测量速度 : 10 次/min
测量压力 : 0.3N 测量头 : 弧面曲率半径15mm
尺寸 : 450mm(L)*350mm(W)*40 重量 : 35kg

CHY-CU薄膜测厚仪采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

测试原理

   薄膜厚度测试仪机械接触式测试原理,截取一定尺寸试样,测量头自动降落于试样之上,在一定压力和一定接触面积下测试出试样的厚度值。

产品特征

l PLC控制,人机界面操作,稳定,准确,简单,直观

l 严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制

l 测试过程中测量头自动升降,有效避免了人为因素造成的系统误差

l 实时显示测量结果的 值、 小值、平均值以及标准偏差等分析数据

l 系统支持数据实时显示、自动统计、储存、打印等许多实用功能

l 主机程序可按照要求定制

l 微型打印机方便测试结果快捷输出

l 标准的RS232接口,专业软件(可选)

   薄膜厚度测试仪测试应用

薄膜、薄片、隔膜、纸张、纸板、箔片、硅片、金属片等材料的测试

   薄膜厚度测试仪技术参数

测试范围 0~2 mm(标配)

分辨率   0.1 μm

测量速度 10 次/min (可调)

测量压力  0.3N

测量头   弧面曲率半径15mm

尺寸: 450mm(L)*350mm(W)*400mm(H)

重量:35kg

测试标准

该设备满足多项国家和国际标准:ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983, BS 4817、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547

产品配置

标准配置:主机、标准量块一件、微型打印机

选购件:专业软件、通信电缆、测量头、配重砝码