ED-400型涡流测厚仪适于在生产现场、销售现场或施工现场对产品进行快速、无损的膜厚检查， 可用于生产检验、验收检验和质量监督检验。符合国家标准GB/T4957-2003 《非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量涡流法》。

仪器特点

天星ED-400型涡流测厚仪与ED300型相比，具有如下特点：

● 量程宽-    ED400型涡流测厚仪量程达到0～500 μm。

● 精度高-    测量精度达到2%。

● 分辨率高-    分辨率达到0.1 μm

● 校正简便-    只校正“0”和“50 μm”两点，即可在全量程范围内保证设计精度。

● 基体导电率影响小-   基体材料从纯铝变化到各种铝合金、紫铜、黄铜时，测量误差不大于1～2 μm。

● 可靠性提高-   采用集成度高、稳定性好电子器件，电路结构优化，仪器可靠性提高。

● 稳定性提高-   采用温度补偿技术，测量值随环境温度的变化很小。仪器校正一次可在生产现场长期使用。

● 探头芯寿命长-   采用强度高的磁芯材料，微调了探头设计，探头芯寿命可大延长。

技术参数

标准配置:

主机           

探头           

基体（6063铝合金）

校正箔片   一套4片（附检测报告）

仪器箱

可选附件:

备用探头

基体

校正箔片（附检测报告）