北师大紫外辐照计 UV-A双通道(365nm和420nm) 辐照强度计

主要性能指标：

UV-A型紫外辐照计采用SMT贴片工艺，选用高精度低功耗数字芯片，仪器外壳为流线型设计，探测器经过严格的光谱及角度特性校正，性能稳定，适用性强。适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。

产品特点

光谱及角度特性经严格校正

数字液晶显示，带背光

手动/自动量程切换

数字输出接口（USB,冗余供电）

低电量提醒

自动延时关机

有数字保持

轻触按键操作，蜂鸣提示

探头： UV-420nm 探头 UV-365nm 探头

波长范围及峰值波长: λ：(375～475)nm；λP＝420nm λ：(320～400)nm；λP＝365nm

紫外带外区杂光： UV420：小于0.02% UV365：小于0.02%

辐照度测量范围： (0.1～199.9×103) μW/cm2

相对示值误差： ±10%（相对与NIM标准）

角度响应特性： ±5%(α ≤10°)

线性误差： ±1%

短期不稳定性： ±1%（开机30min后）

响应时间： 1秒

使用环境： 温度(0～40)℃，湿度＜85%RH

尺寸和重量： 160mm×78mm×43mm；0.2kg

电源： 常规使用6F22型9V积层电池一只

亦可使用数据线连接USB接口、5V电源适配器供电

整机功耗   ＜0.2VA