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品牌 : | 森源 | 型号 : | UV756 |
波长范围 : | 190-1100nm | 测量精度 : | ±0.5nm |
加工定制 : | 否 | 类型 : | 可见光 |
噪声 : | 见参数 | 重量 : | 参数 |
扫描型紫外可见分光光度计 UV756 仪器特点:
1. 采用1200条/mm高性能光栅。新型的光源控制系统,使仪器光源切换更快速。
2. 精确的2nm带宽,使测试数据更准确。使用进口长寿命光源,使仪器光源切换更快速。
3.特有的波长控制系统,使波长精度更高。改良的光学系统,使测试更准确。
4.采用进口的光电转换器,使仪器的灵敏度更高。
5.新型的微电脑数据处理系统。使仪器的使用更简便,稳定性也很好。
6.仪器采用128*64位点阵液晶显示器,可直接显示标准曲线和测试数据,主机可存储测试数据,并可选配打印机;
UV756CRT型紫外可见分光光度计在UV756的基础上增加了全波段自动扫描功能和连接微机功能。
扫描型紫外可见分光光度计 UV756 仪器参数:
波长范围:190-1100nm
波长准确度:±0.5nm
波长重复性:0.2nm
光谱带宽:2nm
透射比准确度:±0.5%T
透射比重复性:0.2%T
透射比范围:0.0-200%T
吸光度范围:-0.30-3A
浓度显示范围:0-1999
杂散光:0.05%T@220nm、360nm
稳定性:±0.001A/小时 @500nm
输出接口:USB接口
打印机:选配
分析软件:支持
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