Agilent4287A射频LCR测试仪/HP4287A阻抗分析仪·1MHz～3GHz，以100KHz分档·阻抗测量范围宽，从200mΩ到3KΩ·在低测度信号电平上具有优良的测量

重复性·基本精度为1%·高速测量9ms

  Agilent4287A射频LCR测试仪/HP4287A阻抗分析仪

产品状态:已停产

    Agilent 4287A射频LCR测试仪在1MHz～3GHz频率范围可以提供***、可靠和快速测量，以改进生产线上对电子元件进行测试的质量和生产

率。与反射测量技术不同，采用直流电压测量技术能在大的阻抗范围进行***测量。

生产率高，质量可靠

    4287A 适于在射频范围对电子元器件进行测试。4287A的测量非常快。此外，在小测试电流(100μA)处优良的测试重复性还可以***提高生

产率，因为所需的取平均过程非常短。

系统组建简单

    测试头电缆(1m或利用延伸电缆时为2m)很容易接到(元件固定装置的)被测件接点附近，而不会使误差有任何增大。内置比较器功能、高速

GPIB接口和处理器接口可用来简化与元件固定装置和PC机的组合。增强的比较器功能可以使复杂的仓室适用于多频或阵列芯片测试。

便于使用

     8.4英寸彩色显示器能清楚观察测量设置和结果。新研制的用户接口使操作过程更为方便且无差错。内置统计分析功能可以提供监视测试

质量和效率的过程。可选用的LAN接口有助于统一进行生产监控。此外，若干APC-7 SMD测试夹具可以与4287所提供的夹具架和APC-3.5转APC-7

适配器联用，从而无需制作***夹具。