真空衰减法检漏仪 CCIT微渗漏密封性测试 无损检漏仪 

真空衰减法检漏仪是济南三泉中石实验仪器新设计研发的新型无损包装密封性检测仪器，适用于产品包装，尤其是成品包装进行无损密封性检测。仪器采用真空衰减法测试原理，完全无损检测技术，对样品进行密封性检测，检测后的试样、样品仍然可以正常使用。

微泄漏密封性测试仪满足ASTM F2338《使用真空衰变法无损检验包装紧密性的标准试验方法》、USP 1207等标准，针对不同检测样品可选配对应的测试腔，并且试验结束后，仪器自动给出合格与不合格的判断，无需人工参与，确保数据的准确性与客观性。除此之外，仪器支持局域网传输，具备在线升级功能，可满足客户的个性化需求。

真空衰减法测试原理

微泄漏密封性测试仪对测试腔进行抽真空，包装物内外形成压力差，在压力的作用下包装物内气体通过漏孔扩散至测试腔内，双传感器技术检测时间和压力的变化关系，与标准值（建立的数学模型）进行比较，从而判断试样是否泄漏。

技术参数

真空度：0--100kPa

检测孔径精度：＜5μm

设备操作：自带HMI

内部压力：常压

测试系统：真空传感器技术

真空来源：外接真空泵

测试腔：根据样品定做

检测原理：真空衰减法/无损检测

主机尺寸：500mmX360mmX320mm（长宽高）

重    量：18Kg

环境温度：20℃-30℃

相对湿度：≤80%,无凝露

工作电源：220V

满足标准

ASTM F2338使用真空衰变法无损检验包装紧密性的标准试验方法、USP 1207