上海众路 QBG-3E高频介电常数测试仪绝缘材料石英晶玻璃陶瓷片 ASTM-D150 厂家直销_石英灯杯_光源_工业照明_供应

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上海众路 QBG-3E高频介电常数测试仪绝缘材料石英晶玻璃陶瓷片 ASTM-D150 厂家直销

2023-09-03

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基本信息

品牌:皆准
起订:1台
总量:12台

上海众路实业有限公司

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详情信息

加工定制 :	是	品牌 :	皆准
型号 :	QBG-3E	规格 :	10KHZ-70MHz
适用范围 :	测定试样的介电常数及介质损耗正切值

高频绝缘材料介电常数/介质损耗测试系统

AS2855高频绝缘材料介电常数介质损耗测试系统由S916测试装置（夹具）、QBG-3E/QBG-3F/AS2853A型高频Q表、数据采集和tanδ自动测量控件（装入QBG-3E/QBG-3F或AS2853A的软件模块)、及LKI-1型电感器组成。依据国标GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美标ASTM D150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的解决方案。本仪器中测试装置是由平板电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。使用QBG-3E或AS2853A数字Q表具有自动计算介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）。

一本设备适用标准

1 GBT 1409-2006 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长存内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法

2 GBT 1693-2007 硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法

3 ASTM-D150-介电常数测试方法

4 GB9622.9-88/SJT 11043-1996 电子玻璃高频介质损耗和介电常数的测试方法

二 AS2855介电常数/介质损耗测试系统系统组成：

1. 主机：AS2853A/QBG-3E/QBG-3F 高频Q表

功能名称：	QBG-3E	QBG-3F	AS2853A
信号源范围DDS数字合成信号	10KHZ-70MHz	10KHZ-110MHz	100KHZ-160MHz
信号源频率覆盖比	7000:1	11000:1	16000:1
信号源频率精度 6位有效数	3×10-5 ±1个字	3×10-5 ±1个字	3×10-5 ±1个字
采样精度	11BIT	11BIT	12BIT 高精度的AD采样，保证了Q值的稳定性，以及低介质损耗材料测试时候的稳定性
Q测量范围	1-1000自动/手动量程	1-1000自动/手动量程	1-1000自动/手动量程
Q分辨率	4位有效数,分辨率0.1	4位有效数,分辨率0.1	4位有效数,分辨率0.1
Q测量工作误差	<5%	<5%	<5%
电感测量范围 4位有效数,分辨率0.1nH	1nH-8.4H , 分辨率0.1nH	1nH-8.4H 分辨率0.1nH	1nH-140mH分辨率0.1nH
电感测量误差	<3%	<3%	<3%
调谐电容	主电容30-540pF	主电容30-540pF	主电容17-240pF
电容直接测量范围	1pF～2.5uF	1pF～2.5uF	1pF～25nF
调谐电容误差分辨率	±1 pF或<1% 0.1pF	±1 pF或<1% 0.1pF	±1 pF或<1% 0.1pF
谐振点搜索	自动扫描	自动扫描	自动扫描
Q合格预置范围	5-1000声光提示	5-1000声光提示	5-1000声光提示
Q量程切换	自动/手动	自动/手动	自动/手动
LCD显示参数	F，L，C，Q，Lt，Ct波段等	F，L，C，Q，Lt，Ct波段等	F，L，C，Q，Lt，Ct波段等
自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能( )	有	有	有
大电容值直接测量显示功能( )	测量值可达2.5uF	测量值可达2.5uF	测量值可达25nF
介质损耗系数	精度万分之一	精度万分之一	精度万分之一
介电常数	精度千分之一	精度千分之一	精度千分之一
材料测试厚度	0.1mm-10mm	0.1mm-10mm	0.1mm-10mm

2. S916（数显）介电常数ε_r和介质损耗因数tanδ测试装置：

固体：材料测量直径 Φ50mm/Φ38mm 可选；厚度可调 ≥ 15mm （二选一）

液体：测量极片直径 Φ38mm；液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）

3. LKI-1电感组

电感No	电感量	准确度%	Q值≥	分布电容约略值	谐振频率范围 MHz		适合介电常数测试频率
电感No	电感量	准确度%	Q值≥	分布电容约略值	QBG-3E/F	AS2853A	适合介电常数测试频率
1	0.1μH	±0.05μH	200	5pF	20~70	31~103	50MHz
2	0.5μH	±0.05μH	200	5pF	10~37	14.8~46.6	15MHz
3	2.5μH	±5%	200	5pF	4.6~17.4	6.8~21.4	10MHz
4	10μH	±5%	200	6pF	2.3~8.6	3.4~10.55	5MHz
5	50μH	±5%	200	6pF	1~3.75	1.5~4.55	1.5MHz
6	100μH	±5%	200	6pF	0.75~2.64	1.06~3.20	1MHz
7	1mH	±5%	150	8pF	0.23~0.84	0.34~1.02	0.5MHz
8	5mH	±5%	130	8pF	0.1~0.33	0.148~0.39	0.25MHz
9	10mH	±5%	90	8pF	0.072~0.26	0.107~0.32	0.1MHz

注意: 可定制100MHz电感.

AS2853A主机和QBG-3E/QBG-3F区别在于可以测试精度0.0001的材料介损值

三、 AS2855高频介电常数及介质蒜损耗测试系统主要测试材料:

1 绝缘导热硅胶,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光学胶,环氧树脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龙/涤纶,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA等

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