奥林巴斯 OLYMPUS OmniScan SX

相控阵超声波探伤仪

型号：OmniScan sx

更小巧、更轻便的OmniScan仪器

产品特征

OmniScan SX 相控阵超声波探伤仪

Olympus不无自豪地为广大用户推出了研制的OmniScan SX，这是一款积累了20多年探索相控阵技术的经验，体现了OmniScan精华的探伤仪。为了更加方便地使用仪OmniScan SX在其8.4英寸触摸屏上使用了合理简化的新型软件界面。OmniScan SX是一款单组无模块仪器，针对检测要求较低的应用，这款仪器操作极为方便，极高。OmniScan SX有两种型号：SX PA和SX UT。SX PA是一款16:64PR相控阵单元，与仅具有UT通道的SX UT一 样，也配备了一个常规UT通道，可以进行脉冲回波、一发一收或TOFD检测。与OmniScan MX2相比，OmniScan SX重量轻33 %，体积小50 %，具有OmniScan产品的更为轻巧便携的性能。

设置

可以在NDT SetupBuilder中为检测进行设置，然后再通过SD卡或USB钥匙，将设置直接导入到OmniScan SX 仪器。进行采集之前，只需在仪器中进行几项基本操作， 如：设置闸门和范围。由于OmniScan SX具有以下几个特性，用户也可以在仪器中非常方便地创建设置：

自动探头识别

单步骤、预先配置应用的向导

焊缝覆盖与声线跟踪模拟

校准

为完成一项符合规范的检测，仪器中的校准向导可以保证每组中的每个聚焦法则都直接等同于一个单通道常规探伤仪。用户在完成所要求的校准过程中，会得到向导的分步指导。所校准的项目包括声速、楔块延迟、灵敏度、TCG、DAC、AWS及编码器。现在，仪器可以自动完成TOFD PCS校准与直通波矫直的操作。

采集

在进行手动、单线或光栅编码扫查时，OmniScan SX可以方便地对检测参数进行配置。采集数据可以用户选择的视图形式实时显示在屏幕上，用户还可以将数据存储于具 有热插拔功能的SD卡或USB 2.0设备中。

智能布局

全屏模式，可更好地显示缺陷

可以使用不同的闸门组合对同步和测量进行处理

数据分析和报告制作

数据光标、参考光标与测量光标用于缺陷的定量。

扩展的数据库、预先定义的三角学参数列表、缺陷相对于轴的统计数据、体积位置信息、基于规范的合格标准、腐蚀成像的统计数据等等。

在进行离线闸门重新定位的操作中，视图可被链接在一起，进行交互式分析和自动更新。

优化的预置布局可对缺陷的长度、深度和高度进行快速方便的定量。无论您想在计算机中完成数据分析，还是希望您的OmniScan仪器采集完数据后继续在现场进行数据分析，OmniPC或TomoView都是理想的与OmniScan

如果需要或考虑进行多组检测（如：两个PA探头或PA + UT组合），Olympus建议用户使用OmniScan MX2仪器。这款用作模块平台的高级探伤仪可方便日后的升级过程：用户可以先根据自己的经济实力或检测需求购买一款适合自己目 前应用的模块，以后再购买其它更多的模块，为自己的检测设备升级。